证券之星 03-07
艾为电子获得外观设计专利授权:“半导体测试机”
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证券之星消息,根据天眼查 APP 数据显示艾为电子(688798)新获得一项外观设计专利授权,专利名为 " 半导体测试机 ",专利申请号为 CN202430485729.7,授权日为 2025 年 3 月 7 日。

专利摘要:1. 本外观设计产品的名称:半导体测试机。2. 本外观设计产品的用途:用于测试半导体。3. 本外观设计产品的设计要点:在于形状。4. 最能表明设计要点的图片或照片:立体图 1。

今年以来艾为电子新获得专利授权 6 个,较去年同期减少了 80.65%。结合公司 2024 年中报财务数据,2024 上半年公司在研发方面投入了 2.53 亿元,同比减 22.88%。

数据来源:天眼查 APP

以上内容为证券之星据公开信息整理,由智能算法生成(网信算备 310104345710301240019 号),不构成投资建议。

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