盖世汽车讯 据外媒报道，莱斯大学（Rice University）的材料科学家开发出一种新的工作流程，用于测量金刚石及其他先进半导体材料中的微观缺陷。该方法能更轻松地发现那些会削弱性能的缺陷，从而有望加速更可靠的电子和量子器件的研发进程。

图片来源：莱斯大学

研究团队开发了一款基于 Python 的定制软件工具，用于快速分析高分辨率 X 射线衍射数据——这是一种利用 X 射线探测材料内部晶体结构的技术。该软件能够分析生成的衍射图样，识别原子晶格中的位错与不规则结构，并计算出这些缺陷在特定材料中的密度。